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【2h】

Automated DfT Insertion and Test Generation for 3D-SICs with Embedded Cores and Multiple Towers

机译：具有嵌入式内核和多个塔的3D-sIC的自动DfT插入和测试生成

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Christos Papameletis;
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年度 2016
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2. The role of test protocols in automated test generation for embedded-core-based system ICs [J] . Erik Jan Marinissen Journal of Electronic Testing: Theory and Applications: Theory and Applications . 2002,第4a5期

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3. Automated estimation of item difficulty for multiple-choice tests: An application of word embedding techniques [J] . Fu-Yuan Hsu, Hahn-Ming Lee, Tao-Hsing Chang, Information Processing & Management . 2018,第6期

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